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      • VT6100共聚焦顯微鏡測(cè)量粗糙度的儀器

        VT6000共聚焦顯微鏡測(cè)量粗糙度的儀器采用3D捕獲的成像技術(shù),它通過(guò)數(shù)碼相機(jī)針孔的高強(qiáng)度激光來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字成像,具有很強(qiáng)的縱向深度的分辨能力。它基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

        訪問次數(shù):1039
        產(chǎn)品價(jià)格:950000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
      • NS200薄膜厚度和臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x

        NS系列薄膜厚度和臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn),可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。

        訪問次數(shù):554
        產(chǎn)品價(jià)格:600000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
      • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光干涉三維形貌儀

        SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光干涉三維形貌儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

        訪問次數(shù):1144
        產(chǎn)品價(jià)格:960000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
      • NS200中圖臺(tái)階儀品牌

        NS系列中圖臺(tái)階儀品牌采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。

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        產(chǎn)品價(jià)格:600000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
      • SuperViewW1中圖白光干涉儀測(cè)粗糙度

        中圖白光干涉儀測(cè)粗糙度以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

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        產(chǎn)品價(jià)格:960000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
      • VT61003d形貌測(cè)量分析顯微鏡

        VT6000系列3d形貌測(cè)量分析顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè),對(duì)大坡度的產(chǎn)品有更好的成像效果,在滿足精度的情況下使用場(chǎng)景更具有兼容性。

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        產(chǎn)品價(jià)格:950000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2025-03-09
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